Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.ddpu.edu.ua/jspui/handle/123456789/222
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorНадточий, В.А.-
dc.contributor.authorБеш, А.Н.-
dc.date.accessioned2020-06-15T17:38:33Z-
dc.date.available2020-06-15T17:38:33Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.issn2413-2667-
dc.identifier.urihttp://dspace.ddpu.edu.ua/jspui/handle/123456789/222-
dc.descriptionThe theoretical basis for calculating the holographic intensity distribution of laser radiation during diffraction from two-dimensional screens is presented. The solution of diffraction problems is performed using the Fresnel or Kirchhoff integrals depending on the shape of the limiting screens, to which the laser beam is directeden_US
dc.description.abstractИзложены теоретические основы расчета голографического распределения интенсивности лазерного излучения при дифракции от двумерных экранов. Решение дифракционных задач выполнено с использованием интегралов Френеля или Кирхгофа в зависимости от формы ограничивающих экранов, на которые направлен лазерный лучen_US
dc.language.isootheren_US
dc.publisherДонбаський державний педагогічний університетen_US
dc.relation.ispartofseriesЗбірник наукових праць фізико-математичного факультету ДДПУ, Випуск 9;46-51-
dc.subjectмодуляцияen_US
dc.subjectдифракцияen_US
dc.subjectлазерen_US
dc.subjectкластерen_US
dc.subjectнаноструктураen_US
dc.subjectполупроводникen_US
dc.titleРаспределение дифракционно-модулированного по интенсивности лазерного излучения на поверхности полупроводникаen_US
dc.title.alternativeDistribution of intensity-diffracted laser radiation on asemiconductor surfaceen_US
dc.typeArticleen_US
Розташовується у зібраннях:Збірник наукових праць фізико-математичного факультету ДДПУ, Випуск 9

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
pp046-051.pdf325,39 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.