Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.ddpu.edu.ua/ddpu/handle/123456789/440
Назва: Измерение диффузионной длины носителей заряда в приповерхностных слоях монокристалла германия
Автори: Уколов, А.И.
Надточий, В.А.
Сысоев, Д.В.
Ключові слова: германий
дефекты
дислокации
диффузионная длина
Дата публікації: 2014
Видавництво: Донбаський державний педагогічний університет
Серія/номер: Збірник наукових праць фізико-математичного факультету ДДПУ, Випуск 4;91-96
Короткий огляд (реферат): В работе показана возможность практического использования фотоэлектрического метода для определения диффузионной длины неосновных носителей заряда в приповерхностных слоях полупроводников. Выполнены теоретические расчеты концентрации нерановесных носителей заряда за пределами области их генерации.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ddpu.edu.ua:8083/ddpu/handle/123456789/440
ISSN: 2413-2667
Розташовується у зібраннях:Збірник наукових праць фізико-математичного факультету ДДПУ, Випуск 4

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
pp-91.pdf1,27 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.