Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.ddpu.edu.ua/ddpu/handle/123456789/278
Назва: Центры рекомбинации на поверхности полупроводника
Інші назви: Recombination centers on the surface of a semiconductor
Автори: Надточий, В.А.
Баранюкова, И.С.
Ключові слова: скорость рекомбинации
равновесное состояние
дислокация
дефекты
Дата публікації: 2018
Видавництво: Донбаський державний педагогічний університет
Серія/номер: Збірник наукових праць фізико-математичного факультету ДДПУ, Випуск 8;60-64
Короткий огляд (реферат): Присутствие в полупроводниковом кристалле различных дефектов типа дислокаций, вакансий, малоугловых границ и примесных атомов значительно сокращает время жизни неосновных носителей зарядаτ. В данной работе обращено внимание на подобное действие непосредственно самой поверхности, как естественного дефекта кристаллической структуры
Опис: The presence of various defects in the semiconductor crystal such as dislocations, vacancies, small-angle boundaries, and impurity atoms significantly reduces the lifetime of minority carriers of charge τ. In this paper attention is drawn to a similar action directly on the surface itself, as a natural defect in the crystal structure
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ddpu.edu.ua:8083/ddpu/handle/123456789/278
ISSN: 2413-2667
Розташовується у зібраннях:Збірник наукових праць фізико-математичного факультету ДДПУ, Випуск 8

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
pp_060-064.pdf169,95 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.