Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.ddpu.edu.ua/ddpu/handle/123456789/520
Назва: Измерение параметров рекомбинации неравновесных носителей заряда в приповерхностных слоях монокристаллического Ge
Автори: Надточий, В.А.
Уколов, А.И.
Попов, О.К.
Перебайло, С.А.
Ключові слова: полупроводник
эффективное время жизни
скорость поверхностной рекомбинации
Дата публікації: 2012
Видавництво: Слов'янський державний педагогічний університет
Серія/номер: Збірник наукових праць СДПУ, Випуск 2;87-93
Короткий огляд (реферат): Рассмотрена конструкция устройства для определения времени жизни неравновесных носителей заряда в приповерхностном дефектном слое монокристаллического германия по результатам измерений эффективного времени жизни, времени жизни в объеме и скорости поверхностной рекомбинации.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ddpu.edu.ua:8083/ddpu/handle/123456789/520
ISSN: 2413-2667
Розташовується у зібраннях:Збірник наукових праць фізико-математичного факультету СДПУ, Випуск 2

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
087-093.pdf937,71 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.